La AEC tiene programados más de 90 encuentros, congresos y jornadas donde profesionales y empresas referentes, en todas las áreas de gestión, comparten visión, retos y experiencias.
Más información en:
Plazo de inscripción : del 6 de septiembre de 2019 al 2 de febrero de 2020.
Se trata de un Master de la Universidad de Educación a Distancia, UNED, estructurado en módulos en los que se ofrece al alumno itinerarios que conducen a diferentes titulaciones de diferentes niveles.
Las actividades formativas ofertadas en el presente Programa Modular están dirigidas a todo tipo de profesionales y estudiosos interesados en actividades relacionadas con la Metrología. Este Máster pretende ser una fuente de conocimiento para el personal científico e investigador y para docentes de enseñanzas secundarias y universitarias.
El principal objetivo del presente Programa Modular es abordar, de una manera sistemática y actualizada de los conocimientos y tendencias en los diversos campos de la Metrología y satisfacer la necesidad de la sociedad española de contar con profesionales altamente cualificados en materia metrológica. El Máster, que pretende ser un referente para aquellos sectores y agentes cuyas actividades requieren conocimientos contrastables y un elemento válido en el proceso de acreditación de la competencia técnica, se articula a través de una serie de módulos secuenciales.
Más información y matriculación en:
https://formacionpermanente.uned.es/tp_actividad/idactividad/10847
Evento interdisciplinario que destaca las tecnologías ópticas y fotónicas más convincentes, desde la óptica digital hasta las tecnologías cuánticas y la imagen óptica, la detección y la metrología. Como temas adicionales, fotónica de THz, óptica impresa en 3D, gafas fotónicas, materiales fotosensibles y un programa ampliado de biofotónica.
https://spie.org/conferences-and-exhibitions/photonics-europe
El mayor evento científico internacional en “Aplicaciones del láser en las ciencias de la vida”. 13 sesiones para elegir, que abordan una amplia gama de temas:
- Imágenes ópticas difusas
- Propagación de la luz en tejidos, modelado y “fantasmas” ópticos.
- Terapia guiada por imagen, láser y PDT para tratamiento y diagnóstico.
- Microscopía óptica e interacciones láser-célula-tejido
- Enfoques multimodales y multiespectrales.
- Nano-biofotónica para el cáncer.
- OCT, elastografía, fotoacústica, imágenes de polarización
- Aplicaciones de microondas y terahercios en biología y medicina.
- Aprendizaje automático, bioinformática, procesamiento de imágenes y señales
- Transferencia clínica aplicada al tratamiento y diagnóstico del cáncer.
- Dispositivos biofotónicos para diagnósticos personalizados y wearables.
- Láser en dermatología – Fotodermatología
6ª Conferencia de medidas de presión y vacío. IMEKO TC16
24ª Conferencia de medidas de fuerza, masa y par. IMEKO TC3
14ª Conferencia en medidas de dureza. IMEKO TC5
5ª Conferencia en medidas de vibraciones. IMEKO TC22
Durante los días 5 a 7 de mayo se celebrarán conjuntamente las conferencias de los comités técnicos de IMEKO, TC 3, TC5, TC16 y TC 22, que permitirá a expertos de la industria, centros de investigación y de las universidades compartir información y experiencias en sus respectivos campos. Los TC son foros internacionales para promover intercambios profesionales y fomentar la comunicación entre los expertos.
http://conferences.imeko.org/index.php/tc3-5-16-22_2020/2020
Cuando se van a cumplir 5 años de su fallecimiento, el Comité de Metrología del IIE, va a realizar una jornada en recuerdo a Leonardo Villena Pardo. Villena fue maestro y modelo de los que tuvimos la suerte de coincidir con él. Trabajador infatigable, brillante, pionero en ideas innovadoras, generoso, profundamente religioso y con un gran amor a España.
Su trabajo, prestigio y su magisterio, fue fundamental en el desarrollo y la difusión de la Metrología en España.
Por ello, destacadas personas de instituciones relacionadas con la metrología, la calidad, los castillos, Universidad etc., le recordarán en esta jornada como metrólogo, investigador y persona.
Cada 20 de mayo se celebra el Día Mundial de la Metrología, en conmemoración de la firma de la Convención del Metro, que tuvo lugar en París en 1875; un acuerdo diplomático que en aquel momento firmaron 17 países, entre ellos España, y que ha sido pieza clave para la armonización y aceptación internacional de las medidas, el avance de la ciencia y el desarrollo de una economía globalizada.
El 10º seminario Intercongresos estará enfocado a exponer los desarrollos normativos y las perspectivas de nuevos desarrollos con la irrupción de la digitalización.
La información relevante estará en la web del CEM: https://www.cem.es
La tecnología aditiva está avanzando de forma rápida, generando mucho interés y también muchas preguntas en torno a sus ventajas, su integración en los procesos de fabricación considerados más tradicionales y el resultado final de sus aplicaciones.
En este contexto, ADDIT3D es un espacio destacado para la búsqueda de aplicaciones concretas en piezas, materiales, software y soluciones de diseño y CAM basadas en las nuevas tecnologías.
Gracias a su combinación de exposición y conferencias, ADDIT3D se ha convertido en un espacio de referencia para la industria y ofrece una oportunidad única para intercambiar información y tecnología, mejorar la competitividad de los procesos de fabricación y conocer de primera mano los avances en la aplicación de esta tecnología.
Addit3d se celebrará en el contexto de la BIEMH, Bienal Española de Máquina-Herramienta, el mayor punto de encuentro de fabricación avanzada del país. La transformación digital y el mantenimiento predictivo, completarán la oferta expositiva con la celebración en las mismas fechas de Bedigital, e IMIC
El taller explorará los desafíos contemporáneos, oportunidades y soluciones con respecto a la digitalización en la metrología legal.
El taller reunirá a expertos de diferentes disciplinas técnicas, así como a representantes de la industria, la ciencia, las autoridades de evaluación, los organismos notificados y las autoridades reguladoras para discutir y presentar sus visiones, soluciones y realizaciones digitales prácticas en el campo de la metrología legal.
Está especialmente pensado para proporcionar un foro para el intercambio de estrategias existentes, conceptos y primeros pasos hacia la digitalización.
https://www.oiml.org/en/events/oiml-seminars/digital-transformation
MetroInd4.0 & IoT tiene como objetivo analizar las contribuciones tanto de la metrología para el desarrollo de Industria 4.0 como de IoT así como las nuevas oportunidades que ofrecen estas dos revoluciones para el desarrollo de nuevos métodos e instrumentos de medida.
El seminarioT tiene como objetivo reunir a personas que trabajan en el desarrollo de instrumentación y métodos de medida para el apoyo de Industria 4.0 e IoT.
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