La AEC tiene programados más de 90 encuentros, congresos y jornadas donde profesionales y empresas referentes, en todas las áreas de gestión, comparten visión, retos y experiencias.
Más información en:
Investigación de vanguardia y productos innovadores
Últimas investigaciones en biofotónica, tecnologías láser, y materiales y dispositivos optoelectrónicos. Una semana completa con más de 5 200 documentos técnicos, 65 opciones de cursos y talleres, ponentes notables, un potente programa industrial y muchas oportunidades para establecer contactos.
Además, últimos productos y dispositivos que impulsan los mercados de tecnología en las Exposiciones BiOS Expo y Photonics West, que cuenta con 1 400 empresas, la Expo Industry Stage y una Feria del Trabajo.
Plazo de inscripción : del 6 de septiembre de 2019 al 2 de febrero de 2020.
Se trata de un Master de la Universidad de Educación a Distancia, UNED, estructurado en módulos en los que se ofrece al alumno itinerarios que conducen a diferentes titulaciones de diferentes niveles.
Las actividades formativas ofertadas en el presente Programa Modular están dirigidas a todo tipo de profesionales y estudiosos interesados en actividades relacionadas con la Metrología. Este Máster pretende ser una fuente de conocimiento para el personal científico e investigador y para docentes de enseñanzas secundarias y universitarias.
El principal objetivo del presente Programa Modular es abordar, de una manera sistemática y actualizada de los conocimientos y tendencias en los diversos campos de la Metrología y satisfacer la necesidad de la sociedad española de contar con profesionales altamente cualificados en materia metrológica. El Máster, que pretende ser un referente para aquellos sectores y agentes cuyas actividades requieren conocimientos contrastables y un elemento válido en el proceso de acreditación de la competencia técnica, se articula a través de una serie de módulos secuenciales.
Más información y matriculación en:
https://formacionpermanente.uned.es/tp_actividad/idactividad/10847
Como el principal evento mundial de litografía, el programa técnico se centra en trabajos en litografía óptica, metrología y EUV. Los líderes vienen a resolver desafíos en litografía, tecnologías de diseño y materiales únicos, mientras comparten los últimos avances en la industria de los semiconductores.
https://spie.org/conferences-and-exhibitions/advanced-lithography
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Durante tres días, el programa se estructurará en torno a los siguientes temas clave: Aplicaciones reales de Metrología Inteligente, Instrumentación y Calibración avanzada, Metrología e Industria 4.0 y Nuevas soluciones de Metrología Dimensional. Un completo programa ofrecerá no sólo contenido tecnológico de alto nivel, sino también momentos de confraternización únicos con profesionales del mundo de la industria y representantes de empresas con gran proyección internacional. Metromeet reúne también a representantes de diferentes Universidades Internacionales y otros centros, tanto públicos como privados. https://metromeet.org/?lang=es
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Evento interdisciplinario que destaca las tecnologías ópticas y fotónicas más convincentes, desde la óptica digital hasta las tecnologías cuánticas y la imagen óptica, la detección y la metrología. Como temas adicionales, fotónica de THz, óptica impresa en 3D, gafas fotónicas, materiales fotosensibles y un programa ampliado de biofotónica.
https://spie.org/conferences-and-exhibitions/photonics-europe
El mayor evento científico internacional en “Aplicaciones del láser en las ciencias de la vida”. 13 sesiones para elegir, que abordan una amplia gama de temas:
- Imágenes ópticas difusas
- Propagación de la luz en tejidos, modelado y “fantasmas” ópticos.
- Terapia guiada por imagen, láser y PDT para tratamiento y diagnóstico.
- Microscopía óptica e interacciones láser-célula-tejido
- Enfoques multimodales y multiespectrales.
- Nano-biofotónica para el cáncer.
- OCT, elastografía, fotoacústica, imágenes de polarización
- Aplicaciones de microondas y terahercios en biología y medicina.
- Aprendizaje automático, bioinformática, procesamiento de imágenes y señales
- Transferencia clínica aplicada al tratamiento y diagnóstico del cáncer.
- Dispositivos biofotónicos para diagnósticos personalizados y wearables.
- Láser en dermatología – Fotodermatología
6ª Conferencia de medidas de presión y vacío. IMEKO TC16
24ª Conferencia de medidas de fuerza, masa y par. IMEKO TC3
14ª Conferencia en medidas de dureza. IMEKO TC5
5ª Conferencia en medidas de vibraciones. IMEKO TC22
Durante los días 5 a 7 de mayo se celebrarán conjuntamente las conferencias de los comités técnicos de IMEKO, TC 3, TC5, TC16 y TC 22, que permitirá a expertos de la industria, centros de investigación y de las universidades compartir información y experiencias en sus respectivos campos. Los TC son foros internacionales para promover intercambios profesionales y fomentar la comunicación entre los expertos.
http://conferences.imeko.org/index.php/tc3-5-16-22_2020/2020
Cuando se van a cumplir 5 años de su fallecimiento, el Comité de Metrología del IIE, va a realizar una jornada en recuerdo a Leonardo Villena Pardo. Villena fue maestro y modelo de los que tuvimos la suerte de coincidir con él. Trabajador infatigable, brillante, pionero en ideas innovadoras, generoso, profundamente religioso y con un gran amor a España.
Su trabajo, prestigio y su magisterio, fue fundamental en el desarrollo y la difusión de la Metrología en España.
Por ello, destacadas personas de instituciones relacionadas con la metrología, la calidad, los castillos, Universidad etc., le recordarán en esta jornada como metrólogo, investigador y persona.
Cada 20 de mayo se celebra el Día Mundial de la Metrología, en conmemoración de la firma de la Convención del Metro, que tuvo lugar en París en 1875; un acuerdo diplomático que en aquel momento firmaron 17 países, entre ellos España, y que ha sido pieza clave para la armonización y aceptación internacional de las medidas, el avance de la ciencia y el desarrollo de una economía globalizada.
El 10º seminario Intercongresos estará enfocado a exponer los desarrollos normativos y las perspectivas de nuevos desarrollos con la irrupción de la digitalización.
La información relevante estará en la web del CEM: https://www.cem.es
