La 2ª edición de la Conferencia Internacional sobre Metrología y Transformación Digital representa un punto de encuentro internacional en el mundo de la investigación en el campo de la metrología para la transformación digital involucrando a instituciones nacionales e internacionales y al mundo académico en un debate sobre el estado del arte relativo a cuestiones que requieren un enfoque conjunto por parte de expertos en metrología, medición e instrumentación y ensayos industriales, ingenieros típicamente profesionales, y expertos en metrología de la innovación. Se presta atención, entre otros, a la transformación digital en la trazabilidad metrológica, las vías para la transformación digital, la metrología de redes de sensores, la transformación digital en la metrología legal, la digitalización y el SI, las infraestructuras y tecnologías digitales, y muchos más.
Lugar: Benevento (Italia)