ICMMI 2020: 14. International Conference on Metrology, Measurement and Inspection

0
Cuando:
diciembre 2020 – diciembre 2020 todo el día
2020-12-10T00:00:00+01:00
2020-12-12T00:00:00+01:00
Donde:
Nueva York
EEUU

El objetivo de esta conferencia es reunir a los principales científicos, académicos e investigadores para intercambiar y compartir sus experiencias y resultados de investigación en todos los aspectos de la metrología, medición e inspección. También proporciona una plataforma interdisciplinaria de primer nivel para que investigadores, profesionales y educadores presenten y discutan las innovaciones, tendencias y preocupaciones más recientes, así como los desafíos prácticos encontrados y las soluciones adoptadas en los campos de la metrología, la medición y la inspección.

https://waset.org/metrology-measurement-and-inspection-conference-in-december-2020-in-new-york

Sending
Puntuación del usuario
0 (0 votos)

31 Bienal de la máquina herramienta, BIEMH

Previous article

3rd WCANM-2021 — 3rd Workshop on Characterization and Analysis of Nanomaterials

Next article

Comentarios

Deja un comentario

Este sitio usa Akismet para reducir el spam. Aprende cómo se procesan los datos de tus comentarios.

Login/Sign up