SPIE Optical Metrology

Temas de la conferencia

• Sistemas de medición óptica para inspección industrial
• Aspectos de modelado en metrología óptica
• Métodos ópticos para inspección, caracterización e imágenes de biomateriales
• Detección multimodal: tecnologías y aplicaciones
• Inspección visual automatizada y visión artificial

https://spie.org/conferences-and-exhibitions/optical-metrology

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